在超聲波傳播中，在不同聲速的兩種介質(zhì)界面上，臨界角實(shí)質(zhì)是指折射角為90°時(shí)的入射角（按斯涅耳定律計算），這只能在被入射介質(zhì)中的聲速大于入射介質(zhì)的聲速時(shí)發(fā)生。超過(guò)這一角度時(shí)在被入射介質(zhì)中不會(huì )出現某種的特定波形。根據斯涅耳定律sinβ=（V2÷V1）sinα式中：α為入射角β為折射角V2為被入射介質(zhì)的聲速V1為入射介質(zhì)的聲速如入射介質(zhì)是水，被入射介質(zhì)是鋼，根據斯涅爾定律存在兩個(gè)臨界角，sinα=sinβ÷(V2÷V1)=V1÷V2臨界角：α=arcsin[sin90°÷(5900m/s÷1483m/s)]=14.5°第二臨界角：α=arcsin[sin90°÷(3230m/s÷1483m/s)]=27.3°超聲波數字檢測儀設備可以進(jìn)行多種語(yǔ)言的切換，適應不同地區的使用需求。南通檢測儀使用教程

探傷儀

概述：帶延遲塊超聲波探頭，通過(guò)在探頭下方加裝延時(shí)塊，以提供不同的超聲波檢測功能和選項。延時(shí)塊根據需求設計，有可拆卸延遲塊、表面保護膜和橡膠延時(shí)塊等選項。帶延遲塊探頭的主要功能是利用探頭晶片與工件表面之間的時(shí)間延遲，這樣能夠提高表面分辨率。帶延遲塊探頭設計用于高精度厚度的測量，超薄工件等應用材料和復合材料的分層檢測。使用耐高溫材料的延時(shí)塊還可以制作成用于高溫材料檢測的高溫超聲波探頭。應用：帶延遲塊探頭常用于超薄工件檢測和高精度測厚，因此，常采用10MHz/15MHz/20MHz等高頻率，超高頻超聲波探頭需具備窄脈沖寬頻的特性，在薄板金屬構件或焊接接頭超聲檢測中具有較高的精度和實(shí)用性。浙江工業(yè)無(wú)損探傷儀HUT-3X0系列手持數字超聲波探傷儀探傷時(shí)缺陷長(cháng)度的測定方法。

CSK-IA試塊是我國承壓設備無(wú)損檢測標準JB/T4730—2005中規定的標準試塊，是在IIW試塊基礎上改進(jìn)后得到的，其結構及主要尺寸如圖4—30所示。CSK-IA試塊有三點(diǎn)改進(jìn):1)將直孔φ50mm改進(jìn)φ50mm、φ44mm、φ40mm臺階孔，以便于測定橫波斜探頭的分辨力。2)將R100改為R100、R50階梯圓弧，以便于調整橫波掃描速度和檢測范圍。3)將試塊上標定的折射角改為K值(K=tanβs)，從而可直接測出橫波斜探頭的K值。CSK-IA試塊的其他功能同IIW試塊,材質(zhì)一般同被檢工件。(4)CSK-IA,CSK一IA和CSK一ⅣA標準試塊CSK-IA,CSK-IIA,CSK-ⅣA試塊是JB/T4730—2005標準中規定采用的焊縫超聲波檢測用的橫孔標準試塊。CSK-IA結我國的CSK系列標準試塊比較特殊，要求試塊材質(zhì)與工件相同或相近。CSK-IA,CSK一IA,CSK-ⅣA試塊主要用于測定橫波距離一波幅曲線(xiàn)、斜探頭的K值和調整橫波掃描速度和靈敏度等。其中CSK-IA和CSK-A適用于壁厚范圍為8~120mm的焊縫，CSK-ⅣA系列試塊用于壁厚范圍120～400mm的焊縫。

方法一：橫波探傷法對焊縫進(jìn)行超聲波檢測時(shí)，需要在焊縫兩側進(jìn)行探傷，找到底端反射波B，移動(dòng)超聲波探頭找到頂端反射波T，出現在B和T波之間的異?；夭ǎ‵）即為缺陷波，由于超聲波檢測時(shí)采用聲波的多次反射法進(jìn)行探傷，可選擇具有半跨距顯示功能的超聲波探傷儀，通過(guò)輸入檢測板厚度值，從而在超聲波探傷儀波形顯示區域可更直觀(guān)的顯示出檢測缺陷的具體信息。方法二：超聲波穿透法如果焊接后表面平整，也可采用縱波法進(jìn)行探傷，如果焊縫中存在一定尺寸的氣孔或者夾雜缺陷，收到的超聲波波幅遠遠小于沒(méi)有缺陷時(shí)，當缺陷達到一定尺寸后，接收探頭無(wú)法接收到超聲波。超聲波數字檢測儀可以進(jìn)行多種數據處理方式的選擇，提高數據分析能力。

試塊的分類(lèi)超聲檢測用試塊通常分為標準試塊、對比試塊和模擬試塊三大類(lèi)。(1)標準試塊標準試塊通常是由機構制定的試塊，其特性與制作要求有專(zhuān)門(mén)的標準規定。標準試塊通常具有規定的材質(zhì)、形狀、尺寸及表面狀態(tài)。如IIW試塊,CBI,CBII;CSI.CSII,CSⅢ;CSK-IA，CSK-ⅡIA，CSK-ⅢA，CSK-ⅣA。(2）對比試塊對比試塊是以特定方法檢測特定工件時(shí)采用的試塊，含有意義明確的人工反射體（平底孔、槽等)。它與被檢工件材料聲學(xué)特性相似，其外形尺寸應能被檢工件的特征，試塊厚度應與被檢工件的厚度相對應。對比試塊主要用于檢測校準以及評估缺陷的當量尺寸，以及將所檢出的不連續信號與試塊中已知反射體產(chǎn)生的信號相比較。(3）模擬試塊模擬試塊是含模擬缺陷的試塊，可以是模擬工件中實(shí)際缺陷而制作的樣件，或者是在以往檢測中所發(fā)現含自然缺陷的樣件。模擬試塊主要用于檢測方法的研究、無(wú)損檢測人員資格考核和評定、評價(jià)和驗證儀器探頭系統的檢測能力和檢測工藝等。手持數字超聲波探傷儀校準方法、校準視頻!浙江數字超聲波探傷儀用途

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渾身是寶的CSK-IA超聲波試塊CSK-IA試塊是超聲波檢測較常用的試塊之一，標準中對于試塊的定義分為標準試塊、對比試塊，其中CSK-IA試塊穩居標準試塊行列已有15年之久。針對CSK-IA試塊的各部分功能進(jìn)行描述（1）采用R=50mm，R=100mm弧，可用于測定聲速、探頭的入射點(diǎn)（前沿、探頭延遲），如果只采用單?。?0mm或100mm）可測定探頭的入射點(diǎn)，聲速可以手動(dòng)輸入。建議可采用單弧測試，測定聲速為CSK-IA試塊的聲速?。?）可采用三個(gè)不同深度的臺階底面（85mm、91mm、100mm）用于測定直探頭的分辨力，測試結果可做參考NB/T47013要求測試方法參考JB/T9214。(3)可采用40mm、44mm、50mm三個(gè)階梯孔測定斜探頭的分辨力，此處測試結果可做參考，NB/T47013要求測試方法參考JB/T9214。另外可采用50mm圓孔測試斜探頭K值，K2、K2.5、K3探頭布置在上表面，K1、K1.5探頭布置在下表面。采用50mm圓孔還可測試直探頭的盲區，探頭位置分別布置在試塊上表面及側面，此處測試結果也作為參考，具體方法應參照JB/T9214。（4）φ1.5mm橫孔可用于測試斜探頭K值。（5）將CSK-IA試塊平置，可用25mm大平底、測試水平線(xiàn)性、垂直線(xiàn)性，垂直線(xiàn)性測試結果可作參考，具體方法參照JB/T9214。另外可用大平底校準直探頭！南通檢測儀使用教程

南通繪環(huán)電子科技有限公司目前已成為一家集產(chǎn)品研發(fā)、生產(chǎn)、銷(xiāo)售相結合的其他型企業(yè)。公司成立于2014-11-19，自成立以來(lái)一直秉承自我研發(fā)與技術(shù)引進(jìn)相結合的科技發(fā)展戰略。公司主要經(jīng)營(yíng)超聲波探傷儀，便攜式超聲波探傷儀，焊縫檢測探傷儀，超聲波測厚儀等，我們始終堅持以可靠的產(chǎn)品質(zhì)量，良好的服務(wù)理念，優(yōu)惠的服務(wù)價(jià)格誠信和讓利于客戶(hù)，堅持用自己的服務(wù)去打動(dòng)客戶(hù)。依托成熟的產(chǎn)品資源和渠道資源，向全國生產(chǎn)、銷(xiāo)售超聲波探傷儀，便攜式超聲波探傷儀，焊縫檢測探傷儀，超聲波測厚儀產(chǎn)品，經(jīng)過(guò)多年的沉淀和發(fā)展已經(jīng)形成了科學(xué)的管理制度、豐富的產(chǎn)品類(lèi)型。我們本著(zhù)客戶(hù)滿(mǎn)意的原則為客戶(hù)提供超聲波探傷儀，便攜式超聲波探傷儀，焊縫檢測探傷儀，超聲波測厚儀產(chǎn)品售前服務(wù)，為客戶(hù)提供周到的售后服務(wù)。價(jià)格低廉優(yōu)惠，服務(wù)周到，歡迎您的來(lái)電！

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